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臺(tái)式掃描電鏡在金屬材料領(lǐng)域的應(yīng)用
臺(tái)式掃描電鏡在金屬材料領(lǐng)域的應(yīng)用

臺(tái)式電鏡的主要價(jià)值體現(xiàn)在它的便捷性,以及可獲取比光學(xué)顯微鏡放大倍數(shù)更高的圖像。近期,由于臺(tái)式電鏡已成為高通量篩選方法的一個(gè)重要組成部分,對(duì)其性能也提出了更高的要求。新型TM3030Plus配置了專門的高靈敏度低真空二次電子探測(cè)器可以觀察樣品表面的細(xì)節(jié)信息。在低真空模式下,TM3030Plus無需樣品處理就可獲取二次電子圖像和反射電子圖像。因而,TM3030Plus提高了工作效率并可獲取更多的樣品信息,滿足了如今日益增長的復(fù)雜的顯微應(yīng)用。金屬: 斷口觀測(cè),表面觀測(cè)筆芯:即使筆芯頭上的墨水也可用SE模式觀測(cè),

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