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儀器:135-0001-7008
標樣:191-9553-7296
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波長色散x射線熒光光譜儀是利用原級X射線或其他光子源激發(fā)待測物質(zhì)中的原子，使之產(chǎn)生熒光（次級X射線）。從而進行物質(zhì)成分分析的儀器。X射線熒光光譜儀又稱XRF光譜儀，有色散型和非色散型兩種。它的優(yōu)點是不破壞樣品，分析速度快，適用于測定原子序數(shù)4以上的所有化學元素，分析精度高，樣品制備簡單。X射線或其他光子源激發(fā)待測物質(zhì)中的原子,使之產(chǎn)生熒光（次級X射線）。從而進行物質(zhì)成分分析的儀器。X射線熒光光譜儀又稱XRF光譜儀，有色散型和非色散型兩種。色散型又分為波長色散型和能量色散型。波長色散型XRF光譜儀由X射線管激發(fā)源，分
多數(shù)操作人員對日本理學波長色散X射線熒光光譜儀檢定規(guī)程可能不大清楚或者并沒有具體的操作，儀德公司分享采用日本理學波長色散X射線熒光光譜儀對項目檢定方法操作實例，方便廣大用戶進行學習，本方法來源于網(wǎng)絡數(shù)據(jù)供參考用，不做商業(yè)用。檢定項目操作實例以日本理學X射線熒光光譜儀為例，以表1為技術指標，進行分析測試。1、精密度測試精密度以12次連續(xù)重復測量的相對標準偏差RSD表示。每次測量都必須改變機械設置條件，包括晶體、計數(shù)器、準直器、2θ角度、濾波片、衰減器和樣品轉臺位置等。上式中：s——n次測量的標
根據(jù)JJG810-1993中華人民共和國國家計量檢定規(guī)程《波長色散X射線熒光光譜儀》，對儀器進行檢定/校準，在確保各項指標合格的前提下，儀器方可投入使用。本文對檢定中涉及的指標進行具體實驗分析統(tǒng)計，給出詳細的統(tǒng)計結果。并對檢定的項目進行了探討，為下一步檢定規(guī)程的修訂提供了建議。波長色散X射線熒光光譜儀檢定規(guī)程1993年的版本一直沿用至今天，但是X射線熒光光譜儀已經(jīng)進行了飛速的發(fā)展，如今的波長色散X射線熒光光譜儀器已經(jīng)發(fā)展到了波譜、能譜和微區(qū)掃描三者相結合的大型儀器，具備了更優(yōu)異的檢測性能和新增了掃描性能，并且隨著國
X射線熒光光譜分析在20世紀80年代初已是一種成熟的分析方法，是實驗室、現(xiàn)場分析主、次量和痕量元素的首選方法之一。X射線熒光光譜儀（XRF）是利用原級X射線或其他光子源激發(fā)待測物質(zhì)中的原子，使之產(chǎn)生熒光（次級X射線）,從而進行物質(zhì)成分分析的儀器。X射線熒光光譜儀又稱XRF光譜儀，有波長色散型和能量色散型兩種，適用于測定鈹 (Be)以上的化學元素的含量。它的優(yōu)點是不破壞樣品，分析速度快，分析精度高，樣品制備簡單。X射線熒光光譜儀還可以用于微區(qū)分析及確定分層和涂層的厚度和成分。X-射線與物質(zhì)的交換XRF熒光光譜儀是可以
來源：分析測試百科網(wǎng)我國學者對不同時期WDXRF的進展曾予以評述。WDXRF譜儀從儀器光路結構來看，依然是建立在布拉格定律基礎之上，但儀器面目全新?？v觀30年來的發(fā)展軌跡，可總結出如下特點 。(1) 現(xiàn)代控制技術的應用使儀器精度大幅度提升。WDXRF譜儀在制造過程中，從20世紀80年代起，一些機械部件為電子線路所取代，電子線路又進而被軟件所取代。如一些儀器制造商分別用無齒輪莫爾條紋測角儀和激光定位光學傳感器驅動測角儀，取代傳統(tǒng)θ/2θ齒輪機械運動的測角儀，2θ掃描精度也由齒輪機械運動的±0.001&d
能量色散X射線熒光光譜儀由X射線光管、樣品室、準直器、探測器及技術電路和計算機組成。此外，亦可在樣品前加一單色器，達到降低背景的目的，以改善色散X射線熒光光譜儀的檢出限。它與波長色散X射線熒光光譜儀的顯著不同是分光晶體，而是直接用能量探測器來分辨特征譜線，達到定性和定量分析的目的。如圖：能量色散X射線熒光光譜儀 當樣品中待測元素的特征射線進入能量探測器時，既會產(chǎn)生電子孔穴對，其數(shù)量正比于入射光子的能量，經(jīng)過前置放大器，產(chǎn)生典雅脈沖。由于前方產(chǎn)生的信號幅度小，信噪比低，需要慢脈沖成型放大器將其放大，并采用濾
ROHS檢測儀就是X射線熒光光譜儀，其分析原理也就是X射線熒光光譜儀的分析原理。X射線熒光光譜儀通常可分為兩大類，波長色散X射線熒光光譜儀(WDXRF)和能量色散X射線熒光光譜儀(EDXRF)，波長色散光譜儀主要部件包括激發(fā)源、分光晶體和測角儀、探測器等，而能量色散光譜儀則只需激發(fā)源和探測器和相關電子與控制部件，相對簡單。相對應的X射線熒光光譜儀有：手持式ROHS分析儀斯派克臺式小焦點X射線熒光光譜儀
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