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儀器:135-0001-7008
標樣:191-9553-7296
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日本理學波長色散型熒光光譜儀(WD-XRF),一般由光源(X-射線管)、樣品室、分光晶體和檢測系統(tǒng)等組成。為了準確測量衍射光束與入射光束的夾角，分光晶體系安裝在-一個精密的測角儀上，還需要一龐大而精密并復雜的機械運動裝置。由于晶體的衍射，造成強度的損失，要求作為光源的X射線管的功率要大,一般為2~3千瓦。但X射線管的效率極低，只有1%的電功率轉化為X射線輻射功率,大部分電能均轉化為熱能產(chǎn)生高溫,所以X射線管需要專門的冷卻裝置(水冷或油冷)，因此波譜儀的價格往往比能譜儀高。
掃描電鏡（SEM）是介于透射電鏡和光學顯微鏡之間的一種微觀形貌觀察手段，可直接利用樣品表面材料的物質性能進行微觀成像。掃描電鏡的優(yōu)點是，①有較高的放大倍數(shù)，2-20萬倍之間連續(xù)可調；②有很大的景深，視野大，成像富有立體感，可直接觀察各種試樣凹凸不平表面的細微結構；③試樣制備簡單。 目前的掃描電鏡都配有X射線能譜儀裝置，這樣可以同時進行顯微組織形貌的觀察和微區(qū)成分分析，因此它是當今十分有用的科學研究儀器。
材料分析測試技術和儀器設備眾多，并且各有優(yōu)點，隨其應用范圍愈廣，現(xiàn)有的測試表征手段越來越不能滿足要求，發(fā)展新的表征方法、測試技術勢在必行。就目前的現(xiàn)狀，小編匯總了材料表征和性能測試過程中用到的所有儀器設備供大家參考。 材料表征 材料的成分分析 1、表征方式：X射線光電子能譜儀 效果：得到材料的元素組成及價態(tài)或化合態(tài)。 需要注意的問題：樣品不能大于2mm厚，僅能測試表面元素，可以利用濺射一
便攜式X射線熒光分析儀無論何時何地滿足地質及礦物樣品的需求。現(xiàn)場檢定礦物及地質樣品中的元素組成是一件充滿挑戰(zhàn)的事，野外條件瞬息萬變，但無論是已勘探開發(fā)的區(qū)域，還是待勘探開發(fā)的處女地，其元素含量的要求是一成不變的。在大多數(shù)情況下需要在采樣現(xiàn)場給出分析結果，將樣品送回實驗室意味著將耗費大量的時間而導致項目延遲。事實上，在實驗室對所有樣品進行分析是不可能的，存在著不可操作的問題。實時現(xiàn)場分析是確定地質調查區(qū)域，以及對勘探開發(fā)方向做出調整的基本手段。實時現(xiàn)場分析數(shù)據(jù)的準確性是不可忽視的，在各個含量段，從痕量元素到百分量級；
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