廣州儀德公司專業(yè)代理日本理學(xué)波長色散X射線熒光光譜儀，在理學(xué)光譜上得到廣泛用戶的好評與支持，日本理學(xué)波長色散光譜儀應(yīng)用非常的廣泛：電子和磁性材料、化學(xué)工業(yè)、陶瓷及水泥工業(yè)、鋼鐵工業(yè)、非鐵合金、地質(zhì)礦產(chǎn)、石油和煤、環(huán)境保護。同時檢測材料狀態(tài)也比較比樣性：粉末樣品、塊狀樣品、液體樣品。

ZSXPrimusII波長色散X射線熒光光譜儀是理學(xué)公司新奉獻的上照射式X射線熒光光譜儀，是材料分析與評價的好幫手。

ZSXPrimusII是波長色散掃描式熒光光譜儀，分析精度高。

可以對4Be到92U進行定性、定量分析。

元素的檢量范圍從0.0001%~100%，如進行前處理，可以再下降2~3個數(shù)量級。

波長色散X射線熒光光譜儀主要特點：

1、大幅度提高了超輕元素(B,C)的分析靈敏度、準(zhǔn)確度使用理學(xué)獨創(chuàng)的強度最高的分光晶體RX-25，RX-61，RX-75，保證輕元素分析的靈敏度采用APC自動真空控制機構(gòu)，保證超輕元素分析的準(zhǔn)確度(理學(xué)專利)使用4KW30um超薄窗、超尖銳、長壽命X光管，最適合超輕元素分析

2、采用新光學(xué)系統(tǒng)，實現(xiàn)對重元素的高靈敏度分析

3、強大的粉末樣品測試功能上照式，可以長時間防止粉末污染分光室雙泵、雙真空設(shè)計(樣品室/預(yù)抽真空室)，防止粉末樣品的細(xì)微粉塵混入分光室粉末附件，采用電磁閥真空密封，防止細(xì)微粉塵進入真空泵內(nèi)

4、加裝CCD視頻攝像機構(gòu)，位置分辨率可達100um，可以進行0.5mm的微區(qū)分析，可以測量Mapping(理學(xué)專利)

5、提高少量樣品的分析準(zhǔn)確度使用r-θ樣品臺(理學(xué)專利)，徹底解決了X射線照射不均以及分光晶體強度不均的問題，保證樣品在X射線最強、最佳條件下測量。

6、樣品室與分光室之間有專用隔膜裝置

7、48位自動進樣器

8、PAS自動調(diào)整脈沖高度系統(tǒng)(理學(xué)專利)ACC自動清洗F-PC芯線系統(tǒng)(理學(xué)專利)可以保證儀器在最佳狀態(tài)下使用

9、節(jié)約能源(自動減少X射線管的輸出)；節(jié)約PR-10氣體；節(jié)約He氣(選用He室時)；節(jié)省空間

10、自動監(jiān)控、自動開關(guān)機、自動節(jié)能等多功能操作軟件

11、先進的軟件分析，NEWSQX軟件

12、全中文界面