通常把純度（鋁含量）大于99.8%的純鋁叫做高純鋁（high purity aluminium).它是以優(yōu)質(zhì)精鋁為原料，采用定向凝固提煉法生產(chǎn)的。高純鋁又可細分為次超高純鋁（鋁含量99.5%~99.95%)、超高純度鋁（鋁含量99.996%~99.999%）和極高純度鋁（鋁含量99.999%以上）。高純鋁具有比原鋁更好的導(dǎo)電性、延展性、反射性和抗腐蝕性，在電子工業(yè)及航空航天等領(lǐng)域有著廣泛的用途。在鋁工業(yè)生產(chǎn)中，經(jīng)常要對高純鋁進行來料檢測，通常所用的檢測方法有化學(xué)法、ICP法、OES光譜法等實驗室檢測手段，但需要花費

土壤既是自然環(huán)境的構(gòu)成要素，又是農(nóng)業(yè)生產(chǎn)重要的自然資源。隨著城市化進程及工業(yè)的迅速發(fā)展，重金屬、化學(xué)農(nóng)藥等污染物通過污水灌溉、大氣煙塵沉降、垃圾掩埋處理等各種途徑進入土壤。土壤中的重金屬因不被微生物降解，不易移動，故會不斷積累，造成嚴重污染，并可通過植物吸收進入食物鏈，造成農(nóng)產(chǎn)品安全質(zhì)量隱患，危害人類健康。

在直讀光譜儀中分成CCD與COMS兩種類別的光譜儀，而觸及這一領(lǐng)域的人都知道，在直讀光譜儀中檢測部件十分的關(guān)鍵，而光譜儀檢測器鏡頭非常的重要，我們就來認識一下光譜儀檢測鏡頭中CMOS相比CCD的優(yōu)勢。  ·  信噪比CMOS信噪比低了將近100倍，所以檢出限比CCD低了非常多。CMOS噪聲相對CCD來說幾乎是沒有的，所以測樣的穩(wěn)定性比CCD好很多  ·  成本從成本角度來看，CCD相對于CMOS成本就要高出一截。  ·&nb

德國斯派克手持光譜儀xSORT是無損快速檢測，對準即測，兩秒可出結(jié)果和牌號。性能媲美臺式直讀光譜儀，檢測效果又快又準，同時檢測Mg,Al, Si, P, S, Cl, K, Ca, Ti, V, Cr, Mn, Fe, Co, Ni, Cu, Zn, As, Se, Br, Rb, Sr, Y, Zr, Nb, Mo, Ag, Cd, Sn, Sb, I, Ba, W, Hg, Pb, Bi, Th,U 等元素，并且可以根據(jù)客戶需求進行定制再增加元素。核心應(yīng)用領(lǐng)域及檢測元素：可同時分析47個元素模具鋼分析鋼鐵分析

使用德國斯派克手持式光譜儀（XRF）可把不銹鋼廢料中的主要成分和雜質(zhì)元素檢測出來，不銹鋼的價值主要來自于鎳的含量高低，也存在鉬含量的成分更有特殊價值。不銹鋼廢鋼殘渣可用于不銹鋼再生產(chǎn)，還有鉻鐵廢料、鎳鐵廢料、碳鋼和低合金鋼廢鋼料、錳鐵廢料和鎳合金廢料等。在冶金過程不能減少的元素有P, V, Cu, W, Nb, Co, Sn, Pb和Ta。

銅礦物在自然界存在形式多樣，有原生帶次生富集帶和氧化帶等，共生礦物和伴生礦物眾多，對于此類礦物的鑒別需要借助化學(xué)分析方法或微區(qū)分析技術(shù)。

石灰?guī)r和白云巖中硫和氯的含量不同會影響材料運用效應(yīng)。測定石灰?guī)r和白云巖中硫的含量一般采用燃燒碘量法，測定氯的含量就采用氯化銀比濁法。運用X射線熒光光譜儀可對巖石中元素含量進行測定。

在波長色散X射線熒光光譜儀在金屬元素的測定分析已經(jīng)是應(yīng)用非常的成熟具有典型的用戶及實驗配套方案。其中，在涂層方面的檢測也有很好的應(yīng)用，如涂料紙上的涂料中有線狀異物，用CCD定點分析可以不破壞樣品得知其組成成分。CCD定點分析是利用儀器的內(nèi)置CCD相機和樣品臺驅(qū)動裝置，指定樣品表面任意位置，進行定性或定量分析，這是X射線熒光光譜儀ZSX系列新添加的功能。另外，在此介紹如何使用樣品臺驅(qū)動裝置對檢測出的組成成分進行元素分布分析。操作部分一、分析儀器日本理學(xué)      波長色散型X射線熒光光譜

廣州儀德精密科學(xué)儀器股份有限公司（原廣州市儀德科學(xué)儀器有限公司）創(chuàng)立于2005年，十三年來堅持服務(wù)于國內(nèi)實驗分析領(lǐng)域，專注于各類儀器的研究制造與營銷服務(wù)，是一家專門為客戶打造一站式、全鏈條和“交鑰匙”實驗室而組建的高新技術(shù)企業(yè)。在日本理學(xué)波長色散X熒光光譜儀有專業(yè)的銷售經(jīng)驗及技術(shù)團隊，而且在各行業(yè)領(lǐng)域應(yīng)用非常的廣泛，其中對礦石、巖石測定分析也非常的成熟。溶結(jié)凝灰?guī)r由熔巖凝固而成，分為玻璃狀的微區(qū)鏡面部分和火山灰等基質(zhì)部分。鏡面部分是顯示巖漿本質(zhì)的物質(zhì)，通過對其組成的分析，可以獲得重要的信息。

廣州儀德公司專業(yè)代理日本理學(xué)波長X射線熒光光譜儀，在近年來，在X射線熒光分析的樣品置備方面，對微小及微量樣品的要求日趨嚴格。針對用傳統(tǒng)儀器不能解決的樣品制備及測試等問題，通過對儀器的高靈敏度化和新方法的開發(fā)，不僅解決了以上問題，而且應(yīng)用范圍越來越廣泛。下面分享如何應(yīng)用ZSX Primus系列波長X射線熒光光譜儀能夠以CCD相機拍攝樣品表面后得到的圖象為基礎(chǔ)，指定任意測試位置進行定性分析的儀器，通過對一片片狀切削屑進行定性分析及半定量值分析的結(jié)果，判別其鋼種。操作部分一、儀器波長色散X射線熒光光譜儀（ZSX Prim

廣州儀德X射線熒光光譜儀對礦石領(lǐng)域的金屬元素分析有著豐富的經(jīng)驗及完整的配套方案，下面分享通過日本理學(xué)波長色散X射線熒光光譜儀對花崗巖的元素分析。俗稱御影石的花崗巖屬于酸性深成巖，是由石英，斜長石，云母，角閃石等構(gòu)成的礦物質(zhì)。在此介紹如何使用ZSX新功能---CCD相機和樣品臺驅(qū)動裝置組合，對花崗巖進行CCD元素分布分析。CCD元素分布分析是利用儀器內(nèi)置的CCD相機對直接觀察樣品表面，指定任意位置進行的元素分析。實驗操作部分一、儀器ZSX系列波長色散X射線熒光光譜儀（日本理學(xué)）二、樣品制備將樣品按樣品架大小切割，打磨

礦石開采及礦石判定需要的精準的進行分析測定廣州儀德代理的日本理學(xué)X射線熒光光譜儀可以輕松解決，下面通過實際案例分享測定方法，為礦產(chǎn)行業(yè)提供寶貴經(jīng)驗。為對局部變色堆積巖的變色原因進行無損檢查，使用X射線熒光分析儀作CCD定點分析及元素分布分析。CCD定點分析和元素分布分析是根據(jù)儀器內(nèi)置的CCD相機和樣品臺驅(qū)動裝置的組合，指定任意位置進行測試的方法。就此分析而言，這是一種非常有效的測試方法。這次以分析面積為0.5mm?的小分析直徑進行元素分布分析。即使是小直徑分析，也可得到很高的精度，在短時間內(nèi)得到滿意的結(jié)果。實驗操作

廣州儀德專業(yè)銷售元素分析儀，具有多領(lǐng)域多行業(yè)設(shè)備，為各大廠家提供專業(yè)的配套方案。到底什么是儀器分析？下面廣州儀德用一張圖表簡單跟大家分享一下。儀器分析是一大類分析方法的總稱，一-般的說，儀器分析是指采用比較復(fù)雜或特殊的儀器設(shè)備，通過測量物質(zhì)的某些物理或物理化學(xué)性質(zhì)的參數(shù)及其變化來獲取物質(zhì)的化學(xué)組成、成分含量及化學(xué)結(jié)構(gòu)等信息的一類方法?；蛘哒f通過施加給測試樣品一定的能量，然后分析其對聲、光、電等物理或物理化學(xué)信號的響應(yīng)程度或變化大小。分析儀器即測量這些信號及變化的裝置。根據(jù)待測物質(zhì)在分析過程中被測量或用到的性質(zhì)，儀器

直讀光譜儀日常操作經(jīng)驗圖片合集：

廣州儀德公司專業(yè)銷售日本理學(xué)波譜，波譜不限于材料的形狀，應(yīng)用多領(lǐng)域金屬元素的測定分析。本文章簡單介紹日本理學(xué)ZSXPrimusⅣ波長X射線熒光光譜儀對巖石樣品的定點分析及面掃描分析，為礦石領(lǐng)域?qū)r石測定分析提供寶貴經(jīng)驗。使用儀器分析室內(nèi)置的相機將巖石樣品中需要關(guān)注的測量范圍放大后進行了分析。紅框內(nèi)擴大了的范圍由右圖表示。可以更精密地指定測量位置。面掃3描分析結(jié)果微區(qū)測繪測繪數(shù)據(jù)的測繪視圖統(tǒng)合為以攝像圖和數(shù)據(jù)(圖、測量數(shù)據(jù))來表示。圖示種類有不同模式，可以采用有效的圖示。各測量點的Mg-Kα的譜線比較SQX方法做的定

廣州儀德專業(yè)代理日本理學(xué)ZSX PrimusIV波長色散X射線光譜儀，波長色散型光譜儀可解決多種不同類型樣品金屬元素分析，有效快速幫助各類行加工、生產(chǎn)。本文章分享ZSX PrimusIV波長色散X射線光譜儀這款設(shè)備的特點。硬件最安全、軟件最安心、維護最方便萬一的失誤導(dǎo)致儀器損壞令人十分痛心。高性能的精密分析儀器ZSXPrimusIV設(shè)計為即便粉末樣品發(fā)生粉末飛散也不會損壞儀器的上照射方式。在軟件上也設(shè)計為防止操作失誤的用戶分級管理方式。即便粉末樣品松散下落也不會污染光學(xué)系統(tǒng)-上照射方式因為采用上照射方式粉末壓片樣品

簡介：X射線熒光光譜儀（X-rayFluorescenceSpectrometer，簡稱：XRF光譜儀），是一種快速的、非破壞式的物質(zhì)測量方法。X射線熒光（X-rayfluorescence，XRF）是用高能量X射線或伽瑪射線轟擊材料時激發(fā)出的次級X射線。這種現(xiàn)象被廣泛用于元素分析和化學(xué)分析，特別是在金屬，玻璃，陶瓷和建材的調(diào)查和研究，地球化學(xué)，法醫(yī)學(xué)，考古學(xué)和藝術(shù)品，例如油畫和壁畫。使用型態(tài)：XRF用X光或其他激發(fā)源照射待分析樣品，樣品中的元素之內(nèi)層電子被擊出后，造成核外電子的躍遷，在被激發(fā)的電子返回基態(tài)的時候，

廣州儀德專業(yè)代理日本理學(xué)波長色散型X射線熒光光譜儀，本次文章主要分享理學(xué)中其中一款X射線熒光光譜儀在開啟X射線管時出現(xiàn)下述故障現(xiàn)象?故障現(xiàn)象:無法開啟X射線?錯誤級別:失敗發(fā)生部件:XG發(fā)生器錯誤原因:與XG發(fā)生器通訊控制出錯錯誤代碼:11錯誤及產(chǎn)生原因:X射線發(fā)生器沒有初始化,所以不能夠控制XG?維護信息:關(guān)閉ZSX軟件,并重新啟動初始化。解決辦法1、按照儀器給出的維護信息,關(guān)閉ZSX應(yīng)用軟件,關(guān)掉主機,過5分鐘后,重新開啟X熒光儀,ZSX應(yīng)用軟件正常運行,X熒光儀主機正常初始化,儀器狀態(tài)正常?開啟X-ray時,

廣州儀德公司專業(yè)代理日本理學(xué)ZSXPrimusⅡ型波長色散X熒光光譜儀，今天分享ZSX PrimusⅡ波長色散X熒光光譜儀在使用過程中頻繁出現(xiàn)X射線發(fā)生器發(fā)生異常狀態(tài)故障現(xiàn)象及故障處理，其錯誤級別:失敗，出錯部位:X射線發(fā)生器，錯誤內(nèi)容:X射線發(fā)生器異常狀態(tài)，錯誤代碼:23?（故障記錄如下圖片所示）故障處理1、首先排除光管散熱差造成的故障?清潔二次水(內(nèi)循環(huán)水)過濾器濾芯，恢復(fù)后，流量有所改善(3.75L/min-3.80L/min)，但是故障依然?2、補足二次水(內(nèi)循環(huán)水)水箱，并調(diào)節(jié)其水壓由0.32MPa-0.

廣州儀德公司專業(yè)代理日本理學(xué)波長色散X射線熒光光譜儀?，在理學(xué)光譜上得到廣泛用戶的好評與支持，日本理學(xué)波長色散光譜儀應(yīng)用非常的廣泛：電子和磁性材料、化學(xué)工業(yè)、陶瓷及水泥工業(yè)、鋼鐵工業(yè)、非鐵合金、地質(zhì)礦產(chǎn)、石油和煤、環(huán)境保護。同時檢測材料狀態(tài)也比較比樣性：粉末樣品、塊狀樣品、液體樣品。