波長色散x射線熒光光譜儀是利用原級X射線或其他光子源激發(fā)待測物質(zhì)中的原子，使之產(chǎn)生熒光（次級X射線）。從而進行物質(zhì)成分分析的儀器。X射線熒光光譜儀又稱XRF光譜儀，有色散型和非色散型兩種。它的優(yōu)點是不破壞樣品，分析速度快，適用于測定原子序數(shù)4以上的所有化學元素，分析精度高，樣品制備簡單。X射線或其他光子源激發(fā)待測物質(zhì)中的原子,使之產(chǎn)生熒光（次級X射線）。從而進行物質(zhì)成分分析的儀器。X射線熒光光譜儀又稱XRF光譜儀，有色散型和非色散型兩種。色散型又分為波長色散型和能量色散型。波長色散型XRF光譜儀由X射線管激發(fā)源，分

理學Micro-ZUL波長色散X射線熒光低硫分析儀是儀德公司代理的一款進口產(chǎn)品，它是石油基燃料中硫分析的理想解決方案，具有較低的檢測限，S(LLD)0.3ppm。穩(wěn)固的光學系統(tǒng)安裝在真空環(huán)境中，配置專門設(shè)計的RX-9雙彎曲分光晶體，Mirco-ZULS提供一貫的高靈敏度測量。從校準到日常分析的所有操作，可以通過簡易操作界面來執(zhí)行，即使初次使用的用戶也可以快速掌握。

根據(jù)JJG810-1993中華人民共和國國家計量檢定規(guī)程《波長色散X射線熒光光譜儀》，對儀器進行檢定/校準，在確保各項指標合格的前提下，儀器方可投入使用。本文對檢定中涉及的指標進行具體實驗分析統(tǒng)計，給出詳細的統(tǒng)計結(jié)果。并對檢定的項目進行了探討，為下一步檢定規(guī)程的修訂提供了建議。波長色散X射線熒光光譜儀檢定規(guī)程1993年的版本一直沿用至今天，但是X射線熒光光譜儀已經(jīng)進行了飛速的發(fā)展，如今的波長色散X射線熒光光譜儀器已經(jīng)發(fā)展到了波譜、能譜和微區(qū)掃描三者相結(jié)合的大型儀器，具備了更優(yōu)異的檢測性能和新增了掃描性能，并且隨著國

多數(shù)人到現(xiàn)在還不清楚如何的區(qū)分波長色散型X射線熒光光譜儀與能量色散型光譜儀的之間的區(qū)別到底有哪一些不一樣的，本文中使用表格的形式簡單的介紹兩者之間的原理結(jié)構(gòu)，一分鐘快速掌握其中的奧秘。項目波長色散型能量色散型原理X熒光經(jīng)晶體分光，在不同行射角測量不同元素的特征線X熒光直接進入檢測器，經(jīng)電子學系統(tǒng)處理得到不同元素(不同能量)的X熒光能譜結(jié)構(gòu)為滿足全波段需要，配置多塊晶體，根據(jù)單道掃描和多道同時測定的需要，設(shè)置掃描機構(gòu)和若干固定通道無掃描機構(gòu)，只用一個檢測器和多道脈沖分析器，結(jié)構(gòu)簡單得多，無轉(zhuǎn)動件，可靠性高X-光管高功

日本理學波長色散型X射線熒光光譜儀與能量色散型X射線熒光光譜儀兩款產(chǎn)品各有獨自的優(yōu)勢，針對不同類的樣品檢測各有著長處之處，波長色散型X熒光光譜儀在分析上有著很高的精確度和精密度，能量色散型多數(shù)用去牌號的快速檢測和篩選。下面從這兩款光譜儀的原理與功能介紹它們之間的存的區(qū)別有哪些。

日本理學波長色散型熒光光譜儀(WD-XRF),一般由光源(X-射線管)、樣品室、分光晶體和檢測系統(tǒng)等組成。為了準確測量衍射光束與入射光束的夾角，分光晶體系安裝在-一個精密的測角儀上，還需要一龐大而精密并復雜的機械運動裝置。由于晶體的衍射，造成強度的損失，要求作為光源的X射線管的功率要大,一般為2~3千瓦。但X射線管的效率極低，只有1%的電功率轉(zhuǎn)化為X射線輻射功率,大部分電能均轉(zhuǎn)化為熱能產(chǎn)生高溫,所以X射線管需要專門的冷卻裝置(水冷或油冷)，因此波譜儀的價格往往比能譜儀高。

ZSX Primus Ⅱ波長色散型X射線熒光光譜儀在使用過程上假如出現(xiàn)了PC探測器的PHA調(diào)節(jié)不能正常進行怎么處理，廣州市儀德科學儀器有限公司工程師教你一招，自己也可以進行故障排除。故障現(xiàn)象：進行PHA日常調(diào)節(jié)時，PC探測器微分曲線譜峰太低，嚴重變形，無法計算分辨率、“錯誤內(nèi)容”提示“因為脈高微分曲線的譜峰太低，所以不能進行PHA調(diào)節(jié)”，“維護信息”顯示：“可能使用了錯誤的PHA調(diào)節(jié)樣品，或者PHA調(diào)節(jié)的條件設(shè)置錯誤”。

ZSX Primus Ⅱ 波長色散型X射線熒光光譜儀在檢測過程中由于不正確的使用或者沒有定期的進行維護保養(yǎng)，容易造成機器的故障，下面跟大家分享ZSX Primus系列中二代波長色散型X射線熒光光譜儀在分析中出現(xiàn)X光管故障的現(xiàn)象、產(chǎn)生的原因與最終解決的二種方法。第一故障現(xiàn)象：正常使用過程中，X光管忽然關(guān)閉。“錯誤內(nèi)容”提示“X射線發(fā)生器發(fā)生異常”，“維護信息”顯示：“探測到X射線發(fā)生器有異常情況”。原因分析：X射線發(fā)生器本

進口ZSX Primus Ⅱ色散型X射線熒光光譜儀是日本理學推出的波長熒光光譜儀，性能先進，操作方便，已 廣泛應用于地質(zhì)、鋼鐵、冶煉、醫(yī)藥等多領(lǐng)域。但在實際使用過程中有時會出現(xiàn)這樣那樣的故障，影響正 常測試工作的及時性和測試結(jié)果的準確性，文章針對ZSX Primus Ⅱ波長色散型X射線熒光光譜儀的初始化無法進行的兩個常見的故障現(xiàn)象進行介紹，介紹故障出現(xiàn)的問題、原因分析及解決方法，希望對大家有所幫助。初始化無法進行故障一故障現(xiàn)象：安裝新光管后主機與計算機不能連接，也沒有錯誤信息提示。原因分析：錯誤現(xiàn)象表明計算機系統(tǒng)探

理學多年的積累研制的Supermini200 小型波長色散型儀器， 由高性能的硬件和最新軟件的完美結(jié)合，使得臺式機具有高精度、高穩(wěn)定的機能。Supermini200 波長色散型臺式X射線熒光光譜儀檢測性能非常的高，同一個畫面上的分析、測量、結(jié)果確認操作簡單。Supermini200還配置了高功率200W的Pd靶陶瓷管，能夠進行高靈敏度的分析。Supermini200波長色散型X射線熒光光譜儀能快速解決各行業(yè)元素分析檢測問題，大大提高工作效率。下面簡單介紹其中部分分析應用：部分應用1、含有稀土類重元素等氧化物的定性分

隨著用戶的需要也變得先進和多樣化，理學集團長年以來的技術(shù)研發(fā)、工藝技巧、分析方法之精髓匯集于一體，不斷滿足用戶不斷改變的需求，理學集團研發(fā)了先進的XRF-ZSX Primus系列在各大行業(yè)中被廣泛的應用。其中XRF-ZSX Primus/III+/IV 波長色散型X射線熒光光譜儀在技術(shù)上更加的先進，下面為大家簡單介紹波長色散型X射線熒光光譜儀在部分領(lǐng)域中的應用。部分應用1、鐵礦石分析 ASTM C114粉狀硅酸鹽水泥分析2、熔片法巖石分析3、FeCoNi合金元素分析4、低合金鋼、不銹鋼中Si,Mn,P,S,Ni,C

X射線熒光光譜分析在20世紀80年代初已是一種成熟的分析方法，是實驗室、現(xiàn)場分析主、次量和痕量元素的首選方法之一。X射線熒光光譜儀（XRF）是利用原級X射線或其他光子源激發(fā)待測物質(zhì)中的原子，使之產(chǎn)生熒光（次級X射線）,從而進行物質(zhì)成分分析的儀器。X射線熒光光譜儀又稱XRF光譜儀，有波長色散型和能量色散型兩種，適用于測定鈹 (Be)以上的化學元素的含量。它的優(yōu)點是不破壞樣品，分析速度快，分析精度高，樣品制備簡單。X射線熒光光譜儀還可以用于微區(qū)分析及確定分層和涂層的厚度和成分。X-射線與物質(zhì)的交換XRF熒光光譜儀是可以

X射線熒光光譜分析技術(shù)(XRF)是利用X射線與物質(zhì)產(chǎn)生的X射線熒光而進行的元素分析方法,采用探測器檢測特征X射線熒光的能量和強度,從而實現(xiàn)定性和定量分析。X射線熒光光譜分析具有快速、多元素分析、制樣簡單、重現(xiàn)性好、準確度高、非破壞性和對環(huán)境無污染等特點,被廣泛應用于多領(lǐng)域的樣品分析。硫化銅礦石作為國家戰(zhàn)略礦石之一,對其快速準確分析在開發(fā)利用方面具有重要意義。目前,礦物、礦石樣品傳統(tǒng)分析周期長,操作繁瑣,不適合日常快速分析的要求。開發(fā)了X射線熒光光譜法快速測定硫化銅礦中主量元素的分析方法,實驗采用玻璃熔融法制備硫化銅

來源：分析測試百科網(wǎng)我國學者對不同時期WDXRF的進展曾予以評述。WDXRF譜儀從儀器光路結(jié)構(gòu)來看，依然是建立在布拉格定律基礎(chǔ)之上，但儀器面目全新。縱觀30年來的發(fā)展軌跡，可總結(jié)出如下特點 。(1) 現(xiàn)代控制技術(shù)的應用使儀器精度大幅度提升。WDXRF譜儀在制造過程中，從20世紀80年代起，一些機械部件為電子線路所取代，電子線路又進而被軟件所取代。如一些儀器制造商分別用無齒輪莫爾條紋測角儀和激光定位光學傳感器驅(qū)動測角儀，取代傳統(tǒng)θ/2θ齒輪機械運動的測角儀，2θ掃描精度也由齒輪機械運動的±0.001&d

X熒光光譜儀總而言之，建立適合用戶的標準樣品庫，才能將X射線熒光光譜儀的效能發(fā)揮到極致，雖然前期要做許多工作，例如收集樣品，樣品分析，標準樣品制備等工作，但“磨刀不誤砍柴工”。建立好自己面向應用的標準樣品庫，可以讓自己的檢測做到事半功倍的效果。一、X熒光光譜儀測試方法：　　1、X熒光光譜儀樣品制備進行x射線熒光光譜分析的樣品，可以是固態(tài)，也可以是水溶液。無論什么樣品，樣品制備的情況對測定誤差影響很大。對金屬樣品要注意成份偏析產(chǎn)生的誤籌；化學組成相同，熱處理過程不同的樣品，得到的計數(shù)率也不同；

手持式分析儀可以金屬材料快速分析，所以很多金屬回收的企業(yè)都選擇手持式分析儀在現(xiàn)場直接金屬廢料分揀回收。手持式分析儀對大型的金屬進行現(xiàn)場檢測手持式分析儀對細小的金屬現(xiàn)場分析！

不銹鋼分很多種，今天我們應用戶的邀請，來他們公司用德國斯派克手持式分析儀測他們的大型食品罐，這些都是304或316材質(zhì)的不銹鋼。經(jīng)過幾秒鐘的時間測得的結(jié)果?？焖俅虺?04不銹鋼的牌號出來！

  ICP等離子體發(fā)射光譜經(jīng)過近30年的發(fā)展，已成為化學元素分析不可缺少的工具。其儀器的易用性、高靈敏度、高精度、干擾相對少等特點，已使ICP-OES系統(tǒng)成為冶金、油品、石化、巖礦、環(huán)保、水質(zhì)、生化等應用領(lǐng)域中的最佳分析手段。  斯派克公司從開發(fā)出第一臺ICP光譜儀至今，全新且與眾不同的 SPECTROARCOS 電感耦合等離子體發(fā)射光譜儀是當今世界上最靈活、最快速、強有力的ICP光譜儀。

等離子發(fā)射光譜儀(ICP光譜儀)的性能特點：電感耦合等離子體（ICP）是由高頻電流經(jīng)感應線圈產(chǎn)生高頻電磁場，使工作氣體形成等離子體，并呈現(xiàn)火焰狀放電（等離子體焰炬），達到10000K的高溫，是一個具有良好的蒸發(fā)－原子化－激發(fā)－電離性能的光譜光源。而且由于這種等離子體焰炬呈環(huán)狀結(jié)構(gòu)，有利于從等離子體中心通道進樣并維持火焰的穩(wěn)定；較低的載氣流速（低于1L/min）便可穿透ICP，使樣品在中心通道停留時間達2～3ms，可完全蒸發(fā)、原子化；ICP環(huán)狀結(jié)構(gòu)的中心通道的高溫，高于任何火焰或電弧火花的溫度，是原子、離子的最佳激發(fā)

徠卡清潔度檢測系統(tǒng)已有10 年以上的歷史，迄今為止已可以提供比較完善的清潔度整體解決方案，通過直觀的軟件，較精準的、可重復的測量過濾膜上的顆粒，為客戶帶來更好的工作效率。為您提供高專業(yè)度的解決方案01系統(tǒng)的光路目前已經(jīng)是為清潔度專門設(shè)計，特有的自動偏光能在掃描過程中直接快速準確識別反光和非反光顆粒。自動偏光法是根據(jù)反光與非反光顆粒的折射率不同，在偏振片下呈現(xiàn)出的明亮和黑暗，結(jié)合軟件的灰度判定來直觀準確地判斷反光于非反光顆粒的。這種判定方法不受顆粒形狀的影響，只要是亞光顆粒，在偏振下就是全黑色的，而其余的顆粒就是反光