光譜分析儀簡(jiǎn)單介紹根據(jù)現(xiàn)代光譜分析儀的工作原理,光譜儀可以分為兩大類:經(jīng)典光譜儀和新型光譜儀。經(jīng)典光譜儀器是建立在空間色散原理上的儀器：新型光譜儀器是建立在調(diào)制原理上的儀器.經(jīng)典光譜儀器都是狹縫光譜儀器。調(diào)制光譜儀是非空間分光的，它采用圓孔進(jìn)光根據(jù)色散組件的分光原理,光譜儀器可分為:棱鏡光譜儀，衍射光柵光譜儀和干涉光譜儀.光學(xué)多道OMA(Optical Multi-channel Analyzer)是近十幾年出現(xiàn)的采用光子探測(cè)器(CCD)和計(jì)算機(jī)控制的新型光譜分析儀器,它集信息采集，處理，存儲(chǔ)諸功能于一體。由于OM

光譜分析儀發(fā)射光譜分析的過程    原子發(fā)射光譜分析(光譜分析儀)是根據(jù)原子所發(fā)射的光譜來(lái)測(cè)定物質(zhì)的化學(xué)組分的。在正常的情況下，原子處于穩(wěn)定狀態(tài)，它的能量是低的，這種狀態(tài)稱為基態(tài)。但當(dāng)原子受到能量(如熱能、電能等)的作用時(shí)，原子由于與高速運(yùn)動(dòng)的氣態(tài)粒子和電子相互碰撞而獲得了能量，使原子中外層的電子從基態(tài)躍遷到更高的能級(jí)上，處在這種狀態(tài)的原子稱激發(fā)態(tài)。電子從基態(tài)躍遷至激發(fā)態(tài)所需的能量稱為激發(fā)電位，當(dāng)外加的能量足夠大時(shí)，原子中的電子脫離原子核的束縛力，使原子成為離子，這種過程稱為電離。原子失去一個(gè)

德國(guó)斯派克直讀光譜分析儀器對(duì)環(huán)境要求較高，一般來(lái)說(shuō)，直讀光譜分析儀使用空間要在12平方米以上；防塵，好遠(yuǎn)離強(qiáng)電場(chǎng)及強(qiáng)磁場(chǎng)的場(chǎng)所；避免振動(dòng)遠(yuǎn)離粉塵；溫度： 15 - 30°C, 允許的大溫度變化：± 5 °C/小時(shí)；濕度: 20 - 80%。根據(jù)直讀光譜儀的外觀尺寸進(jìn)行實(shí)驗(yàn)室設(shè)計(jì)，且應(yīng)將光譜分析儀與制樣設(shè)備分開房間放置，為日常操作方便，應(yīng)在儀器的后，左，右留下一米左右空間。在前方的操作面前留有足夠空間，推薦的實(shí)驗(yàn)室儀器間面積應(yīng)在12 平米以上。建議放置儀器的房間與放置氬氣及制樣設(shè)備的

通常情況下，越是大型的分析儀器對(duì)電源的要求越是高，德國(guó)斯派克光譜儀也不例外。德國(guó)斯派克光譜儀及所有附件及循環(huán)冷卻水系統(tǒng)均采用單相交流三線制供電，即火線、零線和地線。電源插座安防在相應(yīng)的設(shè)備后面的墻上，其要求必須安裝32A的220V單相空氣開關(guān)。穩(wěn)定的電源對(duì)于德國(guó)斯派克儀器測(cè)定數(shù)據(jù)的重現(xiàn)性和再現(xiàn)性是極為重要。由于市電電壓波動(dòng)比較大，電源的電壓難以穩(wěn)定，無(wú)法為ICP光譜儀提供穩(wěn)定的電壓；為了確保ICP光譜儀正常工作和測(cè)定數(shù)據(jù)的準(zhǔn)確，需要配備適宜的穩(wěn)定電源或不間斷電源（UPS）來(lái)保證儀器有相對(duì)穩(wěn)定的電壓。儀器要求其電源電

眾所周知，光譜分析儀是一種常用的分析儀器，是根據(jù)原子所發(fā)射的光譜來(lái)測(cè)定物質(zhì)的化學(xué)組分的，應(yīng)用領(lǐng)域較為廣泛。但是用戶對(duì)于光譜分析儀器的一些性能特征是否有所了解？想要更好的使用該產(chǎn)品對(duì)其了解是必不可少的，下面儀德公司將具體介紹光譜分析儀。光譜分析儀器光譜分析儀的性能特點(diǎn)：1、獨(dú)立出射狹縫金屬整縫的特點(diǎn)是儀器調(diào)試方便、快捷，便于出射狹縫增加通道節(jié)約成本。2.自動(dòng)描跡自動(dòng)描跡可大大縮短校準(zhǔn)儀器所用的時(shí)間，使儀器校準(zhǔn)變得簡(jiǎn)單、方便，非專業(yè)人員既可進(jìn)行描跡操作。儀器設(shè)有內(nèi)部恒溫系統(tǒng)。大大減小了環(huán)境溫度變化對(duì)光學(xué)系統(tǒng)造成的漂移。

在當(dāng)今工業(yè)快速發(fā)展的社會(huì)，光譜分析儀器和化學(xué)分析儀器在冶金、化學(xué)、新材料開發(fā)、航空等眾多領(lǐng)域都有著廣泛應(yīng)用。可以說(shuō)兩者各自存在優(yōu)點(diǎn)和不足。下面就來(lái)對(duì)其二者優(yōu)缺點(diǎn)進(jìn)行分析：光譜分析儀器光譜分析儀優(yōu)點(diǎn)：1、采樣方式靈活，對(duì)于稀有、貴重金屬的檢測(cè)和分析可以節(jié)約取樣帶來(lái)的損失；2、測(cè)試速率高，可設(shè)定多通道瞬間多點(diǎn)采集，并通過計(jì)算器實(shí)時(shí)輸出；3、對(duì)于一些機(jī)械零件可以做到無(wú)損檢測(cè)，而不破壞樣品，便于進(jìn)行無(wú)損檢測(cè)；4、分析速度較快，比較適用做爐前分析或現(xiàn)場(chǎng)分析，從而達(dá)到快速檢測(cè)；5、分析結(jié)果的準(zhǔn)確性是建立在化學(xué)分析標(biāo)樣的基礎(chǔ)上。

德國(guó)斯派克直讀光譜儀 ICAL智能校準(zhǔn)與傳統(tǒng)標(biāo)準(zhǔn)化方法的區(qū)別傳統(tǒng)方法:n  每個(gè)元素通過高標(biāo)和低標(biāo)進(jìn)行校準(zhǔn)n  標(biāo)準(zhǔn)化按要求一步一步進(jìn)行，一般每個(gè)基體需激發(fā)4-6塊樣品  ICAL:n  僅需一塊樣品完成所有基體及元素的標(biāo)準(zhǔn)化n  à因此所有標(biāo)準(zhǔn)化工作一步完成效率對(duì)比（以鐵、鋁、銅三個(gè)基體為例：）傳統(tǒng)方法：對(duì)儀器進(jìn)行完全標(biāo)準(zhǔn)化，三套標(biāo)準(zhǔn)化樣品逐一激發(fā)所需時(shí)間約45分鐘；ICAL標(biāo)準(zhǔn)化：只需一塊標(biāo)準(zhǔn)化樣品，5分鐘時(shí)間完成。***不單單只是單

1、光譜分類及原子光譜分析方法有哪些？　　光譜按強(qiáng)度隨波長(zhǎng)或頻率的分布輪廓，可分為線狀光譜、帶狀光譜和連續(xù)光譜；按能量傳遞方式可分為吸收光譜、發(fā)射光譜、熒光光譜和拉曼光譜；按電磁輻射的本質(zhì)，光譜可分為：原子光譜、分子光譜、X射線能譜、γ射線能譜等。電磁波譜根據(jù)能量的高低排列由短波段的γ射線、X射線到紫外光、可見光、紅外光再到長(zhǎng)波段的微波和射頻波，如表1所示的光譜類型。表1 電磁波譜與相關(guān)的光譜類型波長(zhǎng)范圍電磁波區(qū)域光譜分析類型＜0.005nmγ射線區(qū)（穆斯堡爾譜）0.005~10nmX射線區(qū)（X射線熒光光譜）10~

直讀光譜儀和X射線熒光均屬于發(fā)射光譜直讀光譜儀主要分為立式、臺(tái)式、移動(dòng)三種,分析穩(wěn)定性和精度依次下降.X射線熒光主要分為波長(zhǎng)、能量與便攜式三種,分析精度也是按照剛才的順序依次下降,功能依次是元素含量分析、元素半定量定性分析、定性分析元素分析類儀器：原子吸收、ICP（等離子體發(fā)射光譜儀）、ICP-MS（等離子體質(zhì)譜儀）、GD（輝光放電光譜儀）、GD-MS（輝光放電質(zhì)譜儀）、直流電弧光譜儀.以上都主要用戶樣品中元素分量的分析,當(dāng)然這些只是光譜系列的,色譜系類的儀器也可以進(jìn)行部分元素含量的分析除了以上儀器,還有一些主用的

直讀光譜儀操作手冊(cè)  第一章  光電光譜分析的基本原理  一、 光譜分析簡(jiǎn)介  1、 電磁輻射的基本特征  光譜是按照波長(zhǎng)（或波數(shù)、頻率）順序排列的電磁輻射。天空的彩虹、自然界的極光等均是人們?cè)缙谟^察到的光譜，但它們僅是電磁輻射的很小的一部分可見光譜。還有大量的不能被人們直接看到的和感覺到的光譜，如γ射線、x射線、紫外線、紅外線、微波及無(wú)線電波等，這些也都是電磁輻射，它們只是頻率或波長(zhǎng)不同而已。  電磁輻射實(shí)際是一種以巨大速度通過空間而

直讀光譜儀的分析原理：樣品在激發(fā)光源下被激發(fā), 其原子和離子躍遷發(fā)射出光, 進(jìn)入光學(xué)系統(tǒng)被色散成元素的光譜線. 對(duì)選定的內(nèi)標(biāo)線和分析線的強(qiáng)度進(jìn)行測(cè)量, 根據(jù)元素譜線強(qiáng)度與被測(cè)元素的濃度的相互 關(guān)系,采用持久曲線法和控制試樣法得到試樣中被測(cè)元素的含量.

直讀光譜儀的注意事項(xiàng)：1 非崗位人員不得隨便進(jìn)入機(jī)房,機(jī)房?jī)?nèi)禁止吸煙,吃食物.2 卸下火花臺(tái)板時(shí)要輕拿輕放,防止內(nèi)表面劃傷.取出火花室內(nèi)圓石英墊片和玻璃套管 時(shí)務(wù)必謹(jǐn)慎小心,防止操作不當(dāng)致其破碎.3 壓樣品夾子要垂直,不得在未夾好樣品時(shí)按激發(fā)鍵,不得在激發(fā)時(shí)觸摸或抬起樣品夾. ...

光譜儀器的定性分析是指：由于各種元素的原子結(jié)構(gòu)不同，在光源的作用下都可以產(chǎn)生自己特征的光譜。如果一個(gè)樣品經(jīng)過激發(fā)攝譜在感光板上有幾種元素的譜線出現(xiàn)，就證明該樣品中有這幾種元素。這樣的分析方法就叫做光譜定性分析方法。光譜儀器用于定性分析方法有以下幾種：1.比較光譜分析法：這種方法應(yīng)用比較廣泛，它包括標(biāo)準(zhǔn)試樣比較法和鐵譜比較法。標(biāo)準(zhǔn)樣品比較法一般適用于單項(xiàng)定性分析及有限分析。鐵譜比較法它不但可以做單項(xiàng)測(cè)定還便于做全分析。2.譜線波長(zhǎng)測(cè)量法：光譜分析儀器利用譜線波長(zhǎng)測(cè)量法進(jìn)行定性分析是先測(cè)出某一譜線的波長(zhǎng)，再查表確定存在

光電直讀光譜儀雖然本身測(cè)量準(zhǔn)確度很高，但測(cè)定試樣中元素含量時(shí)， 所得結(jié)果與真實(shí)含量通常不一致，存在一定誤差，并且受諸多因素的影響，有的材料本身含量就很低。下面就誤差的種類、來(lái)源及如何避免誤差進(jìn)行分析。    根據(jù)誤差的性質(zhì)及產(chǎn)生原因， 誤差可分為下面幾種：　　1.系統(tǒng)誤差的來(lái)源　　(1)標(biāo)樣和試樣中的含量和化學(xué)組成不完全相同時(shí)，可能引起基體線和分析線的強(qiáng)度改變，從而引入誤差?！　?2)標(biāo)樣和試樣的物理性能不完全相同時(shí)，激發(fā)的特征譜線會(huì)有差別從而產(chǎn)生系統(tǒng)誤差?！　?3)澆注狀態(tài)的鋼樣與經(jīng)過退火、淬

大家都希望自己的直讀光譜儀能很好的正常運(yùn)行，但是由于存在多方面因素的影響，使光譜儀總會(huì)多多少少出現(xiàn)一些異常現(xiàn)象。一旦儀器運(yùn)行出現(xiàn)不穩(wěn)定狀態(tài)，就會(huì)直接影響到測(cè)試分析數(shù)據(jù)的準(zhǔn)確可靠，影響儀器工作狀態(tài)的因數(shù)很多，根據(jù)多年的實(shí)際經(jīng)驗(yàn)，總結(jié)一個(gè)十字要領(lǐng)，“儀，人，水，電，氣，溫，濕，環(huán)，保，修”。

該要求將于2013年7月21日生效，協(xié)調(diào)標(biāo)準(zhǔn)為EN71-3，目前還在過渡期。 新EN71-3檢測(cè)元素：鋁、銻、砷、鋇、硼、鎘、鉻(III)、鉻(VI)、鈷、銅、鉛、錳、汞、鎳、硒、鍶、錫、有機(jī)錫、鋅 ；XRF應(yīng)用解決方案！

土壤既是自然環(huán)境的構(gòu)成要素，又是農(nóng)業(yè)生產(chǎn)重要的自然資源。隨著城市化進(jìn)程及工業(yè)的迅速發(fā)展，重金屬、化學(xué)農(nóng)藥等污染物通過污水灌溉、大氣煙塵沉降、垃圾掩埋處理等各種途徑進(jìn)入土壤。土壤中的重金屬因不被微生物降解，不易移動(dòng)，故會(huì)不斷積累，造成嚴(yán)重污染，并可通過植物吸收進(jìn)入食物鏈，造成農(nóng)產(chǎn)品安全質(zhì)量隱患，危害人類健康。因此，對(duì)土壤中重金屬進(jìn)行監(jiān)測(cè)，已成為環(huán)境保護(hù)的重要工作。要如何才能快速確定土壤、沉積物、固體廢棄物等中是否含有重金屬，從而避免盲目取樣帶來(lái)人力物力的浪費(fèi)呢？X射線熒光光譜法具有無(wú)需樣品制備，同時(shí)多元素測(cè)定、分析速度快、重現(xiàn)性好和無(wú)損檢測(cè)的特點(diǎn)，已成為土壤現(xiàn)場(chǎng)快速監(jiān)測(cè)、快速篩分的重要也是有效的工具。

目     錄一、   WEEE及RoHS指令測(cè)試手段二、   產(chǎn)品特點(diǎn)和性能指標(biāo)三、   配套環(huán)境和人員要求四、   標(biāo)準(zhǔn)配置附件五、   硬件耗材費(fèi)用六、   儀器主要損耗七、   測(cè)試效率八、   售后服務(wù)九、   技術(shù)資料、培訓(xùn)、安裝、調(diào)試及驗(yàn)收十、   儀器基本知識(shí)十一

德國(guó)斯派克分析儀器公司推出的SPECTRO MIDEX微區(qū)分析X射線熒光光譜儀適合于電子電氣產(chǎn)品微小樣品以及微小區(qū)域以及整機(jī)的元素分析，分析樣品的形態(tài)可以為固體或者液體，分析過程對(duì)樣品沒有損害。樣品室有易于調(diào)節(jié)的樣品臺(tái)，通過20倍率變焦攝像系統(tǒng)和激光指位系統(tǒng)，可準(zhǔn)確的確定測(cè)量位置。X射線照射面積小可選0.2mm小焦點(diǎn)聚焦面積，能量無(wú)損失，定位更加精準(zhǔn)，可以測(cè)試到細(xì)小的焊端，引腳和BGA焊球，測(cè)量點(diǎn)直徑小為1.0mm。同一個(gè)樣品在同一臺(tái)機(jī)器測(cè)試多次的結(jié)果偏差小于0.03%,在不同的機(jī)臺(tái)測(cè)試同一個(gè)樣品的結(jié)果偏差小于

等離子體光譜儀是大型精密儀器，除了每周不開氬氣，開主機(jī)預(yù)熱一次，注意控制環(huán)境溫濕度等條件外，還有哪些你不知道的注意事項(xiàng)？把矩管、霧化器、霧化室清洗過，泵管更換，循環(huán)冷卻水更換，提前預(yù)熱，點(diǎn)火前，盡量讓光路和氣路充滿載氣，然后呢？。。。。。。請(qǐng)看下文！  首先你需要知道：ICP-OES的應(yīng)用范圍日常分析前后的注意事項(xiàng)1.檢查氬氣是否充裕，輸出壓力為0555Mpa~0.8Mpa；2.檢查shear Gas 輸出壓力是否正常，0555Mpa~0.8Mpa；3.檢查蠕動(dòng)軟管是否正常，如有變形及